목포대학교 공동실험실습관
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STEM detector
투과전자검출기
  • 호실
    115호
  • 제조사(모델)
    Hitachi (S-4800)
  • 담당자
    김화정
  • 이메일
    baby5653@hanmail.net
  • 연락처
    061-450-6400
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원리 및 특성

전계방사형 전자 현미경의 부분품으로 전자 현미경의 1차 전자가 시료에 주사된 후
투과된 전자를 검출하여 이 신호를 이미지화 하는 장치 이다.
이 신호를 검출하여 시료 내부의 이미지를 확인할 수 있는 장치이다.

규격

1. TE Detecting Device
2. Video Amplifier Unit for TE Detector
3. Photomultiplier Power Supply Unit
4. Aperture For Bright Field STEM Image
5. Bright Field STEM Holder        

적용(응용)분야
사용료

표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함

 

예약 취소 수수료 안내
- 분석 1일전 취소 : 없음
- 당일취소 : 기기이용 수가의 50%
- 분석 진행중 취소 : 취소불가

구분 항목 단위 교외교내타대학기타 비고
분석의뢰
기본료 측정시적용 15,00015,00015,000 분석의뢰자가 sample 전처리 및 시료 준비
분석료 시료 15,00015,00015,000


관련자료


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