X-ray tube내의 텅스텐 filament 에서 고전압으로 하전된 전자가 금속 (Cu) 타겟에 충돌할 때 발생하는 특성 X선을 시료에 조사, 시료내의 결정상은 Bragg 법칙에 따라 고유한 각도에서 회절 된다. 이때 X선이 검출되는 각도와 세기는 해당 결정상을 특정 짓는 고유한 것으로 이 측정 회절 패턴으로 부터 시료의 고유한 결정상의 상 분석 및 결정상의 정량 분석 지원이 가능하다.
시료의 형태는 파우더 박막 등 다양한 형태로 가능 하며, 샘플의 손상 없이 분석이 가능하며, 미지의 시료를 분석하는 장비로서 결정의 기하학적 특징, 내부구조 및 그 성질들에 관하여 연구하는 학문에 주로 활용되고 있다.
1) ray generator 출력 : MAX 4kW
2) X-ray tube : Cu LFF 45kV/40mA
3) Incident beam Optics: BBHD(Parallel beam) Crystal & FDS
4) Diffracted beam Optics: PPC 0.27(Parallel Plate collimator) & Fixed Anti-Scatter Silt
5) Detector : Gas proportional detector & 1D & 2D high speed Solid State detector
6) Goniometer (Vertical theta-theta type)
- Radius : 240mm or larger
- 2θ range : -111 to +168 deg
- Moving type : Optical Positioning Sensor, Smallest Step size : 0.0006 deg.
7) Sample stage:
- Basic solid sample stage
- 3axis cradle (CHI, PHI, Z)
- Rotation-transmission spinner stage & 45 position Auto sample changer
8) Software
Highscore & Highscore plus
Reflectivity software
ICSD data base (2018)
- 결정 상 분석, Phase analysis
- Thin film 분석
- Reflectivity 분석
- 결정 상의 정량 분석 (Rietveld analysis)
표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
예약 취소 수수료 안내
- 분석 1일전 취소 : 없음
- 당일취소 : 기기이용 수가의 50%
- 분석 진행중 취소 : 취소불가
| 구분 | 항목 | 단위 | 교외 | 교내 | 타대학 | 기타 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
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분석의뢰 |
분석료 | 시료 | 15,000 | 15,000 | 15,000 | ||
| 추가요금 (상분석) | 시간 | 10,000 | 10,000 | 10,000 |
