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다목적 X-선 회절분석기 [ Multi purpose X-ray diffractometer ]
 
ㅁ모델/제작사 : EMPYREAN / PANalytical / Netherlands
ㅁ기기담당 : 김화정
ㅁ전화번호 : 061 - 450 - 6151
ㅁ전자우편 : baby5653@hanmail.net
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상세설명

* 원리 및 특징

X-ray tube내의 텅스텐 filament 에서 고전압으로 하전된 전자가 금속 (Cu) 타겟에 충돌할 때 발생하는 특성 X선을 시료에 조사, 시료내의 결정상은 Bragg 법칙에 따라 고유한 각도에서 회절 된다. 이때 X선이 검출되는 각도와 세기는 해당 결정상을 특정 짓는 고유한 것으로 이 측정 회절 패턴으로 부터 시료의 고유한 결정상의 상 분석 및 결정상의 정량 분석 지원이 가능하다.
시료의 형태는 파우더 박막 등 다양한 형태로 가능 하며, 샘플의 손상 없이 분석이 가능하며, 미지의 시료를 분석하는 장비로서 결정의 기하학적 특징, 내부구조 및 그 성질들에 관하여 연구하는 학문에 주로 활용되고 있다.


* 구성 및 성능

1) ray generator 출력 : MAX 4kW
2) X-ray tube : Cu LFF 45kV/40mA
3) Incident beam Optics: BBHD(Parallel beam) Crystal & FDS
4) Diffracted beam Optics: PPC 0.27(Parallel Plate collimator) & Fixed Anti-Scatter Silt
5) Detector : Gas proportional detector & 1D & 2D high speed Solid State detector
6) Goniometer (Vertical theta-theta type)
- Radius : 240mm or larger
- 2θ range : -111 to +168 deg
- Moving type : Optical Positioning Sensor, Smallest Step size : 0.0006 deg.
7) Sample stage:
- Basic solid sample stage
- 3axis cradle (CHI, PHI, Z)
- Rotation-transmission spinner stage & 45 position Auto sample changer
8) Software
Highscore & Highscore plus
Reflectivity software
ICSD data base (2018)


* 용도
- 결정 상 분석, Phase analysis
- Thin film 분석
- Reflectivity 분석
- 결정 상의 정량 분석 (Rietveld analysis)




-기본 의뢰 : 15,000원 (시료당/30분)
추가요금 10,00원 (30분 추가시)
-상분석 : 10,000원 (기본1시간)
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