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주사전자현미경 [ Scanning Electron Microscope(SEM) ]
 
ㅁ모델/제작사 : S-3500N / HITACHI / Japan
ㅁ기기담당 : 김화정
ㅁ전화번호 : 061 - 450 - 6151
ㅁ전자우편 : baby5653@hanmail.net
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상세설명

* 원리 및 특징
- 원리 : 주사전자현미경은 텅스텐 필라멘트의 인위적인 전자를 발생시켜 시료에 주사시킴으로써 시료에서 발생 되는 2차 전자를 검출하여 이미지를 형성화 시키는 장비이다.
- 특징 : 인간의 눈이나 일반 광학 현미경으로 관찰이 어려웠던 미세한 시료 표면을 고배율,고분해능으로 관찰이 가능하다.
특히 전자현미경의 부속 장치를 이용한 다양한 분석이 가능하다.(ex. EDX, EBIC 등)



* 구성 및 성능
- 분해능 :3.0nm(at 25kv, High vacuum) 4.5nm(at 25kv, Low vacuum)
- EDAX 장치 : 전자현미경에서 발생하는 특성 X-Ray를 검출하여 시료의 구성원소 및 구성양을 측정하는 장치임
- EBIC 장치 : 시료내에 전류를 흘려 보내며 시료에서 발광하는 형태의 이미지를 관찰하기 위한 장치임
- Coater : 부도체의 시료를 도체화 시키기 위한 장치



* 용도
전자현미경의 주 목적은 시료의 표면 관찰용이다. 즉 전도성 시료(금속,전도성분말 등), 비전도성 시료(안료, 플라스틱, 합성수지 등)의 세밀한 표면 관찰에 사용된다. 특히 주사전자현미경(S-3500N)의 경우 생체 시료를 시료의 전처리 과정 없이도 시료의 실제 모습을 관찰할 수 있다는 장점이 있다.




* 측정 이미지(클릭시 큰이미지를 보실수 있습니다.)





* 관련업체
이공교역(http://www.rigong.co.kr)






* 기본 5,000원+3,000원/시료(cut)
* Coating 3,000원/회
* CPD 3,000원/회
* 전처리 5,000원/시간
* EDAX 4,000원/시료
- 교외는 교내의 1.5배 적용



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