¢º º¸À¯±â±â ÇöȲ
   - ÇöÀ纸À¯±â±â
   - 2011³â µµÀÔ Àåºñ
   - 2012³â µµÀÔ¿¹Á¤±â±â
¢º ºÐ¼®¼öʾ÷¹«
   - ¹°¸®ºÐ¾ß
   - ¹°¼ººÐ¾ß

   - »ý¹°ºÐ¾ß

¢º ºÐ¼®Á¤¹Ðµµ ½Å·Ú¼º °ü¸®
¢º ÀÎÁõ»ç¾÷
   - KOLAS ÀÎÁõ»ç¾÷
   - ¼ö»êµ¿¹°º´¼º°Ë»ç±â°üÁöÁ¤
¢º ±³À°/¿¬±¸Áö¿ø »ç¾÷
   - ¹æ»ç¼± ¾ÈÀü°ü¸®
   - ÷´ÜÀåºñ °ßÇоȳ»
   - ÷´Ü±â±â »ç¿ëÀÚ±³À°
   - °øµ¿ ¿¬±¸
°ø½Ç°üÁÖ¿ä»ç¾÷> ¹°¸®ºÐ¾ß
 
 

±Ý¼Ó ÇǸ· µÎ²² ºÐ¼®
¹°ÁúÀÇ Roughness/TopoºÐ¼®
¹°ÁúÀÇ Crystal structureºÐ¼®
Unknown ½Ã·á¿¡ ´ëÇÑ Identification
     

   1. ºÐ¼®¹æ¹ý: ±Ý¼ÓÇÇ¹Í - ÇǸ·µÎ²² ÃøÁ¤ - ÁÖ»çÀüÀÚÇö¹Ì°æ ¹æ¹ý(KS D 8516)
                      ½Ã·á¸¦ 15µîºÐÇØ¼­ °¢°¢ÀÇ µÎ²²¸¦ ºÐ¼®ÇÏ°í Æò±ÕÀ» ±¸ÇÏ¿© µÎ²² °ªÀ» ±¸ÇÔ.

   2. ´ë»ó Àåºñ : Field Emission Scanning Electron Microscope (S-4800, Hitachi)

   3. ºÐ¼® »ç·Ê : TiN/Si ½Ã·á¿¡ ´ëÇÑ TiNÀÇ ÇǸ· µÎ²² ºÐ¼®

        

  

   
   1. ºÐ¼®¿ø¸®: ŽħÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¿© ¹°ÁúÀÇ °ÅÄ¥±â(Roughness) ¹× Ç¥¸é Topograph ºÐ¼®

   2. ´ë»ó Àåºñ : Scanning Electron Microscope (XE-100, Parksystem)

   3. ºÐ¼® »ç·Ê 

         

                                                       <ZnO ¹Ú¸·>

          

                                                             <Human hair>

 

   
   1. ºÐ¼®¿ø¸®:

   2. ´ë»ó Àåºñ : High resolution  X-ray Diffractometer.

   3. ºÐ¼® »ç·Ê 

       

 

   

   1. ºÐ¼®¿ø¸® : Unkwon ½Ã·á¿¡ ´ëÇÑ ¹°ÁúÀÇ µ¿Á¤(Identification) ¡æ °íü½Ã·á¿¡ ±¹ÇѵÊ
                      1) 1´Ü°è : EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer)¸¦ ÀÌ¿ë
                                    ½Ã·áÀÇ ±¸¼º¿ø¼Ò¿¡ ´ëÇÑ major ¼ººÐÀ»  ºÐ¼®
                      2) 2´Ü°è : XRD(X-ray Diffractometer)¸¦ ÀÌ¿ë.
                                     EDS¿¡¼­ ºÐ¼®ÇÑ µ¥ÀÌÅ͸¦ ¹ÙÅÁÀ¸·Î ½Ã·á¿¡ ´ëÇÑ È­ÇÕ¹° ºÐ¼®(Identification)

   2. ´ë»ó Àåºñ : Energy Dispersive X-ray Spectrometer, Powder  X-ray Diffractometer

   3. ºÐ¼® »ç·Ê : º®µ¹Ç¥¸é¿¡¼­ äÃëÇÑ Èò»ö ºÐ¸»°¡·ç ºÐ¼®

        1) EDS ºÐ¼®µ¥ÀÌÅÍ

        

        2) Powder XRD ºÐ¼®µ¥ÀÌÅÍ